SKP370/SKP470 modülüyle yükseklik takibi nasıl yapılır?
Kelvin prob ölçümünde prob-numune mesafesinin kapasitif yükseklik takibiyle sabit tutulması; eğik numunelerde doğruluk.
Notun bölümleri: Introduction · Principles of CHM and CTM topology measurement. · Topology relief using CHM. · Topology relief using CTM. · Conclusion
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Güncel model: SKP370 modülünün güncel karşılığı M470 SKP470 modülüdür.
Scanning Probes – Application Note 2M370 → M470
OSP ile SECM yükseklik düzeltmesi: korozyon uygulaması
Optik yüzey profilometresiyle topografya alınıp SECM taramasında prob yüksekliğinin düzeltilmesi; korozyon numunesi örneği.
Notun bölümleri: Introduction · Method. · Results. · OSP measurement · SECM alignment · SECM measurement with topology relief.
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Scanning Probes – Application Note 3M370 → M470
OSP ile SECM yükseklik düzeltmesi: sensör uygulaması
Sensör yüzeyinde aktivite haritasının topografya etkisinden arındırılması.
Notun bölümleri: Introduction · Method · Results · OSP measurement · SECM alignment · SECM measurement with topology relief.
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Alan taraması verisi nasıl son işlenir ve optimize edilir?
Eğim düzeltme, filtreleme, normalizasyon ve tarama parametre seçimiyle daha net haritalar.
Notun bölümleri: Introduction. · A fast CHM measurement. · Conclusions.
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
MIRA yazılımı ile görüntü analizi nasıl yapılır?
Microscopic Image Rapid Analysis: yaklaşma eğrileri ve alan taramalarında 2B/3B yüzey analizi.
Notun bölümleri: Introduction · Plotting Data Obtained with M370 Or M470 · Opening files in MIRA · Area Scans · Line Plots · Using the fitting tool
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Güncel model: Kompakt SECM150 güncel katalogda yer almaz; SECM ölçümleri M470 platformunda yapılır.
Aralıklı temaslı (ic) SECM'in avantajları: iki korozyon örneği
Topografya ve aktivitenin aynı anda ölçülmesi; eğik ve pürüzlü korozyon numunelerinde ic-SECM.
Notun bölümleri: Introduction · Principles · Setup description · How is intermittent contact achieved ? · Operation · ac characterization
Scanning Probes – Application Note 7
ac-SECM ile susuz elektrolitte batarya elektrot malzemeleri nasıl incelenir?
Redoks aracısı gerektirmeyen ac-SECM ile glove box içinde elektrot heterojenliğinin haritalanması.
Notun bölümleri: Introduction · ac-SECM · Method · Results · Conclusion
M370/M470 yazılımındaki grafik ve analiz araçları
Çizgi/alan taramalarında kesit, istatistik, renk ölçeği ve dışa aktarma araçları.
Notun bölümleri: Introduction · Templates · Area Scans · Map Settings · Analysis · Useful Tools for Topography Maps
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Güncel model: Kompakt SECM150 güncel katalogda yer almaz; SECM ölçümleri M470 platformunda yapılır.
SKP ile korozyona uğramış Zn kaplı Fe numunesi nasıl görüntülenir?
Kelvin prob potansiyel haritasıyla kaplama hasarı ve galvanik aktivitenin görselleştirilmesi.
Notun bölümleri: Introduction · Experiment · Results · Conclusion
Scanning Probes – Application Note 10
Si nanotel dizilerinde dc- ve ac-SECM ölçümleri
Nanoyapılı yüzeylerde iletkenlik ve reaktivite kontrastının iki modda karşılaştırılması.
Notun bölümleri: Introduction · dc-SECM vs. ac-SECM · Method · Results · dc-SECM · ac-SECM
Nano desenli altın numune ic-/ac-SECM ile nasıl ölçülür?
Mikron altı desenlerin çözünürlüğü ve ic modunun topografya katkısını ayırması.
Notun bölümleri: Introduction · ic- ac-SECM · Method · Results · Conclusion · Acknowledgements
3DIsoPlot ile 3B harita nasıl üretilir?
Tarama verisinin döndürülebilir, ölçeklenebilir 3B gösterimi; poster ve sunum için render.
Notun bölümleri: Introduction · Samples · Getting Started · Window Menu · Options Menu · 3D Properties
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
İnterdijital dizi elektrot ic-SECM ile nasıl incelenir?
Bantlar arası aktivite ve topografya kontrastı; prob boyutu ve çözünürlük ilişkisi.
Notun bölümleri: Introduction · Ic-SECM · Method · Results · Conclusion · Acknowledgements
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Modüler harita deneyine giriş: interdijital elektrot örneği
Birden fazla tekniğin tek deney dizisinde birleştirilmesi; USB-PIO ile harici tetikleme.
Notun bölümleri: Introduction · Using The Modular Map Experiment · Method · Results · Conclusion · Acknowledgements
USB-PIO ile ışığın canlı yaprak üzerindeki etkisi nasıl ölçülür?
Dijital G/Ç modülüyle ışık kaynağının taramayla senkronize anahtarlanması; biyolojik numune örneği.
Notun bölümleri: Introduction · Using The USB-PIO · Method · Results · Using the USB-PIO in Sequence · Using the USB-PIO in a Modular Map Experiment
Büyük topografik özellikler için ic-SECM
İçbükey, dışbükey ve basamaklı numunelerde prob-numune mesafesinin korunması.
Notun bölümleri: Introduction · Why use ic Techniques? · Results · Convex Sample · Concave Sample · Steel Weld
Yükseklik takipli SECM ile mekanik eksfoliye grafit ölçümü
Katman kenarları ve basal düzlemlerde reaktivite farkının topografyadan bağımsız haritalanması.
Notun bölümleri: Introduction · Method · Results · Conclusion · Acknowledgements
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Scanning Probes – Application Note 18SECM150 → M470
SECM150 ile mikron ölçekli ölçümler
Kompakt SECM150 ile mikroelektrot dizilerinde çözünürlük sınırı (güncel karşılık: M470).
Notun bölümleri: Introduction · Method · Results · Tips For Success · Use a Faraday Cage · Select an Appropriate Scan Rate
Güncel model: Kompakt SECM150 güncel katalogda yer almaz; SECM ölçümleri M470 platformunda yapılır.
Scanning Probes – Application Note 19SECM150 → M470
Gözenekli membranlardan ferrisiyanür difüzyonu SECM ile nasıl incelenir?
Membran gözeneklerinden geçen türün üretim/toplama modunda haritalanması.
Notun bölümleri: Introduction · Method · Results · Quantitative Analysis · Concentration · Collection Efficiency
Güncel model: Kompakt SECM150 güncel katalogda yer almaz; SECM ölçümleri M470 platformunda yapılır.
Foil Cell'e giriş: folyo elektrotlar nasıl ölçülür?
Batarya folyo elektrotları için özel hücrenin kurulumu ve SECM/ac-SECM ölçümü.
Notun bölümleri: Introduction · Advantages Of The Foil Cell · Using The Foil Cell · Results · Membrane · Commercial Battery Electrode Materials
Güncel model: M370 üretimden kalkmıştır; güncel platform M470'tir (aynı teknikler, 20 nm konumlandırma).
Scanning Probes – Application Note 21SECM150 → M470
SECM150 ile NMC batarya elektrotu nasıl ölçülür?
NMC elektrotunda heterojen aktivitenin SECM ile belirlenmesi (güncel karşılık: M470).
Notun bölümleri: Introduction · Experimental · Results · Conclusion · Acknowledgements
Güncel model: Kompakt SECM150 güncel katalogda yer almaz; SECM ölçümleri M470 platformunda yapılır.
SVP470 ile bitkilerde titreşimli prob ölçümleri
SVET ile kök/yaprak yüzeyindeki iyon akılarının haritalanması.
Notun bölümleri: Introduction · Vibrating Probe Principles · Method · Results · Conclusion
Bipolar plakalar ic-SECM ile nasıl incelenir?
Yakıt pili bipolar plakalarında kaplama bütünlüğü ve lokal iletkenlik haritası.
Notun bölümleri: Introduction · Experimental · Results · Conclusion · Acknowledgements
Güncel model: Kompakt SECM150 güncel katalogda yer almaz; SECM ölçümleri M470 platformunda yapılır.
SKP deneylerinde sweep scan modu
Adım yerine sürekli taramayla hızlı Kelvin prob haritaları; hız ve çözünürlük dengesi.
Notun bölümleri: Video demonstration · Introduction · Sweep vs. step scan · Experimental · Results · Sweep scan vs step scan
Güncel model: SKP370 modülünün güncel karşılığı M470 SKP470 modülüdür.
SDS rezervuar kafası nasıl kullanılır?
Tarama damla sistemi ile yüzeyde lokal elektrokimya; elektrolit beslemeli kafa.
Notun bölümleri: Introduction · Experimental · Results · 1. Trimetallic sample · 2. SKP sample · 3. Weld sample
Yükseklik takipli sweep scan
SKP, SECM ve SVET'te sürekli tarama ile yükseklik takibinin birleştirilmesi.
Notun bölümleri: Introduction · Topography Input · 1. Guidelines for file selection. · 2. Aligning OSP for Topography Input · Methods · Results
