FPP Seramik Plaka Sıcaklık Kontrol Ünitesi
−5 … +80 °C, PID kontrollü, 4 × 4 cm seramik numune plakası — FPP 510 opsiyonu
- −5 … +80 °C ayar aralığı
- PID kontrol, ±0,1 °C hassasiyet
- 4 × 4 cm seramik ısıtma/soğutma plakası
FPP 510 — Sıcaklık Kontrollü Dört Nokta Prob (Four Point Probe)
Entek Tasarım — İletkenlik Ölçüm Cihazı
Prob, ölçüm elektroniği ve −5…+80 °C sıcaklık kontrolünü tek taşınabilir gövdede birleştiren dört nokta iletkenlik ölçüm sistemi
- Hepsi bir arada: prob, kontrol ünitesi ve sıcaklık kontrolü tek taşınabilir gövdede
- PTFE prob başlığı, 4 × %99,9 platin iğne; aralık 1 mm, iğne çapı 0,5 mm
- Dikey kızaklı, vidalı prob kolu: ince filmden kalın/geniş numuneye
- Modlar: Sheet Resistance (Ω/□), Bulk Resistivity (Ω·cm), Resistance (Ω); hepsinde S/cm
- Akım 20 nA – 10 mA; direnç 0,1 Ω – 200 MΩ; otomatik aralık ve numune koruma
Üretici: Entek Elektronik, İvedik OSB, Ankara · Yerli tasarım ve üretimGenel bakış
FPP 510, dört nokta prob (four point probe) başlığını, mikroişlemci kontrollü ölçüm elektroniğini ve seramik plakalı sıcaklık kontrol ünitesini tek bir taşınabilir cihazda birleştirir. Dikey kızaklı prob kolu vidalı mekanizmayla farklı kalınlık ve boyuttaki numunelere (ince film, kalın plaka, polimer, kaplama, tekstil) konumlanır; 4 × 4 cm sert seramik taban üzerinde %99,9 platin iğneli PTFE prob başlığı (iğne aralığı 1 mm, iğne çapı 0,5 mm) kirlenmeyi en aza indirir ve kolay temizlenir.
Ölçüm sonuçları seçilen moda göre doğrudan Ω/□ (sheet resistance), Ω·cm (bulk/volume resistivity) veya Ω (resistance) olarak ve her modda eşzamanlı S/cm iletkenlik değeriyle LCD'de okunur. Numune kalınlığı (d) ve geometriye bağlı düzeltme katsayısı (k) tuş takımından girilir; cihaz literatürdeki (Topsøe, 1966) düzeltme tablolarına göre hesaplanan değeri gösterir. 16 bit örnekleme çözünürlüğü ve 99 örneğe kadar ortalama alma kararlı sonuç verir; 20 nA – 10 mA akım aralığı hassas ve düşük iletkenlikli numuneleri korur, otomatik aralık seçimi en yüksek çözünürlüğü bulur.
Entegre PID sıcaklık kontrol ünitesi (±0,1 °C hassasiyet, dijital gösterge) seramik plakayı −5 … +80 °C arasında tutar; iletkenliğin sıcaklığa bağlılığı (polimer, iyonik iletken, yarı iletken) aynı düzenekte ölçülür. Cihazla birlikte 10 Ω / 1 kΩ / 10 kΩ / 1 MΩ referans dirençleri verilir; TEST modunda ölçüm doğruluğu bu dirençlerle anında kontrol edilir.
Uygulama alanları
Başlıca özellikler
- Hepsi bir arada: prob, kontrol ünitesi ve sıcaklık kontrolü tek taşınabilir gövdede
- PTFE prob başlığı, 4 × %99,9 platin iğne; aralık 1 mm, iğne çapı 0,5 mm
- Dikey kızaklı, vidalı prob kolu: ince filmden kalın/geniş numuneye
- Modlar: Sheet Resistance (Ω/□), Bulk Resistivity (Ω·cm), Resistance (Ω); hepsinde S/cm
- Akım 20 nA – 10 mA; direnç 0,1 Ω – 200 MΩ; otomatik aralık ve numune koruma
- 16 bit ADC; 99 örneğe kadar ortalama
- Sıcaklık kontrolü −5 … +80 °C, PID ±0,1 °C, 4 × 4 cm seramik plaka, dijital gösterge
- Kalınlık (d) ve düzeltme katsayısı (k) girişi; LCD + tuş takımı
- Referans direnç seti (10 Ω, 1 kΩ, 10 kΩ, 1 MΩ) ile yerinde doğrulama
Teknik özellikler
| Prob başlığı | PTFE; 4 × platin (%99,9) iğne; aralık 1 mm; iğne çapı 0,5 mm |
|---|---|
| Numune tabanı | 4 × 4 cm sert seramik plaka (ısıtma/soğutma yüzeyi) |
| Mekanik | Dikey kızak üzerinde vidalı prob kolu; farklı kalınlık ve boyutlar |
| Ölçüm modları | Sheet resistance (Ω/□), bulk/volume resistivity (Ω·cm), resistance (Ω); eşzamanlı S/cm |
| Akım aralığı | 20 nA – 10 mA; otomatik/manuel aralık |
| Direnç aralığı | 0,1 Ω – 200 MΩ |
| Çözünürlük | 16 bit örnekleme; 99 örneğe kadar ortalama |
| Parametreler | Numune kalınlığı d (mm), düzeltme katsayısı k |
| Sıcaklık kontrolü | −5 … +80 °C (ortam ve numuneye bağlı); PID, ±0,1 °C; dijital gösterge; ON/OFF ve SET tuşları |
| Sheet resistance için kalınlık sınırı | ≤ 0,6 mm (t ≤ 0,4·s); daha kalın numunelerde bulk resistivity |
| Gösterge | LCD (sonuç + mod) ve entegre tuş takımı |
| Kalibrasyon | Birlikte verilen 10 Ω / 1 kΩ / 10 kΩ / 1 MΩ referans dirençleri (TEST modu) |
| Güç | Şebeke; arka panel açma/kapama anahtarı |
Kaynak: Entek Elektronik ürün dokümanları ve kullanım kılavuzları. Özellikler önceden bildirilmeksizin değişebilir.
Dokümantasyon
Sık sorulan sorular
Bu cihaz hangi uygulamalar için uygundur?
Malzeme karakterizasyonu, Fotovoltaik, Eğitim laboratuvarları. Ölçüm uygunluğunu kesinleştiremediğiniz durumlarda teknik ekibimiz uygulamanıza göre yapılandırma önerir.
Kurulum, eğitim ve garanti nasıl sağlanır?
Kurulum, yazılım eğitimi ve satış sonrası teknik destek Entek Elektronik tarafından Türkçe olarak verilir. Garanti ve servis koşulları teklifte yazılı olarak belirtilir.
Teknik dokümanlar hangi dildedir?
Üretici katalog ve broşürleri İngilizce orijinal dilindedir; bu sayfadaki Türkçe özetler Entek tarafından hazırlanmıştır. Resmi ve güncel teknik veriler için üretici dokümanları esas alınır.
İlgili aksesuarlar
Bu cihazla birlikte kullanılan, Entek tarafından üretilen veya temin edilen aksesuarlar; her birinin özellikleri kendi sayfasında.
Benzer ve karşılaştırılabilir ürünler
FPP 630T — Dokunmatik Ekranlı Dört Nokta Prob (Four Point Probe)
Dokunmatik kontrol paneli, 10 mm iğne aralıklı prob ve 2 MΩ'dan 0,05 Ω'a otomatik veya manuel aralık seçimi ile geniş numuneler için dört nokta iletkenlik ölçümü
- Dokunmatik renkli kontrol paneli: mod, örnekleme, aralık, t ve K girişi tek ekranda
- PTFE prob başlığı, 4 × %99,9 platin iğne, 10 mm aralık — geniş ve kalın numuneler için; yedek başlık temin edilir
- Ölçüm aralığı 2 MΩ → 0,05 Ω: otomatik aralık seçimi; manuel aralık seçimi de mevcuttur
MTZ-35
10 µHz – 35 MHz: malzemelerin elektriksel karakterizasyonu
- Frekans aralığı 10 µHz – 35 MHz
- DC gerilim 100 µV – ±10 V, AC 100 µV – 10 V
- İndüktans 10 nH – 10 kH, kapasitans 1 pF – 1000 µF, direnç 1 mΩ – 500 MΩ
Potentio Galvano Scan
Analog ve dijital göstergeli, 1 A'ya kadar yerli potansiyostat/galvanostat
- Akım aralığı: 0,1 mA – 1 A tam skala, 9 kademe; her kademede ±%0,1 doğruluk
- Çalışma limitleri ±35 V / 1,2 A; maksimum çıkış gücü 40 W
- Bant genişliği 2 MHz (potansiyel modu), çıkış tepkisi 75 V/ms
Bu cihaz araştırmanız için uygun mu?
Teknik ekibimiz ölçüm ihtiyacınıza göre konfigürasyon ve alternatifleri değerlendirir.